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机译:测量各向同性和各向异性薄膜有效椭偏参数的偏振扫描椭偏法
Department of Mechanical Engineering and Advanced Optoelectronic Technology Center, National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan|c|;
Ellipsometry; Mueller matrix; Stokes vector; polarimetry; thin films;
机译:利用Stokes参数法测量各向同性和各向异性薄膜的椭偏参数的方法
机译:椭偏法测量磁性薄膜参数
机译:使用成像椭圆仪无需扫描机制即可确定椭圆仪参数的角度分布
机译:具有扫描振动探针的有机薄膜 - 新位移电流测量方法的新型测量方法
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机译:银纳米棒阵列的各向异性光学响应:表面增强的拉曼散射偏振和椭偏参数面临的角度依赖性。
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