複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断

摘要

In this paper, we propose two methods for diagnosing analog circuits by using multiple transistors and data samplings, which are based on the operation-region model and the X-Y zoning method. The X-Y zoning method uses the characteristics of circuit input voltage and output voltage. The operation-region model can be used for modeling circuit behaviors by utilizing changes in the operation regions of MOS transistors. We demonstrate the effectiveness of the proposed methods by applying them to ITC'97 benchmark circuits with hard faults and soft faults. These methods can improve diagnostic performance and reduce a diagnostic sequence length and processing time.%アナログ回路の故障診断法として、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法が提案されている。X-Yゾーン法は、回路の入出力特性を利用して故障を検出するアナログ回路の故障検山法であり、動作領域モデルは、MOSトランジスタの動作領域を利用して回路をモデル化する方法である。本論文では、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した診断法を拡張した診断方法として、複数個の観測トランジスタを使用する診断法と、複数のデータサンプリングを行う診断法を提案する。提案した方法について、ITC'97の2つのベンチマーク回路のソフト故障とハード故障を対象に診断シミュレーションを行い、提案法の有効性の評価を行った。その結果、診断分解能の向上と診断系列長、処理量の削減に効果があることを確認した。