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アモルファスシリコン光導電素子の周波数応答

机译:非晶硅光电导器件的频率响应

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摘要

これまで、アモルファスシリコン(a-Si)光導電素子の静特性については多数報告されてきたが、動特性に関する報告はほとんどなかった。そこで、我々はa-Si光導電素子を作製し、波長650nmにおける感度および周波数特性評価を行った。電極パターンはフォトリソグラフィによって形成し、リフトオフ法によりNiを蒸着した。a-SiはSiO_2基板上にCat-CVD法により1.2μm 厚堆積させたものを使用した。受光部は櫛型電極構造を形成しており、受光部面積は5μm ×5μm 、電極幅・電極間隔はそれぞれ1μm 、3μm である。作製した素子の特性評価を行ったところ、波長650nm において最大感度4.6mA/W、最大帯域相MHz@V_(bias)=50Vを得た。%We fabricated an amorphous silicon (a-Si) photoconductor and measured a sensitivity and frequency characteristics at a wavelength of 650nm. a-Si layers are deposited by the catalytic chemical vapor deposition (Cat-CVD). The electrodes are patterned by the photolithography and the liftoff process. The electrodes pattern is formed by comb structure, the receiving area of 50μm × 50μm and the electrode width of 1μm. The sensitivity of 4.6 mA/W and the maximum bandwidth of 18MHz were obtained at the wavelength of 650 nm and the bias voltage of 50V.
机译:迄今为止,关于非晶硅(a-Si)光电导元件的静态特性的报道很多,但是关于动态特性的报道很少。因此,我们制造了a-Si光电导器件并评估了其在650 nm波长下的灵敏度和频率特性。通过光刻法形成电极图案,并通过剥离法沉积Ni。通过Cat-CVD法在SiO_2衬底上沉积的a-Si厚度为1.2μm。受光部具有梳状电极结构,受光部的面积为5μm×5μm,电极宽度和电极间隔分别为1μm和3μm。当评估制成的器件的特性时,在650 nm波长处的最大灵敏度为4.6 mA / W,最大带宽相位为MHz @ V_(bias)= 50V。 %我们制造了非晶硅(a-Si)光电导体,并在650nm的波长下测量了灵敏度和频率特性。通过催化化学气相沉积(Cat-CVD)沉积a-Si层。通过光刻将电极图案化电极图案由梳状结构形成,接收面积为50μm×50μm,电极宽度为1μm,在650 nm和650 nm波长下获得了4.6 mA / W的灵敏度和18MHz的最大带宽。偏置电压为50V。

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