机译:电子辐照对硅层复合寿命影响的参数描述:一种实验方法
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机译:评估嵌入式多孔硅层对外延层的整体寿命以及外延层/多孔硅界面处界面复合的影响
机译:利用光激发MOS电容器技术测量硅外延层中载流子复合寿命
机译:电子辐照硅外延层中复合中心的空间分布
机译:氮化硅钝化层的变化对电子辐照的氮化铝镓/氮化镓HEMT结构的影响。
机译:令人信服的2D硅层电子结构中的狄拉克锥的实验证据
机译:γ辐照硅的复合寿命
机译:伽马辐照的p型浮区硅中的复合寿命