机译:带有恒定故障门的基础反合电路的电路可靠性
Functional Gates CircuitUnreliability of A CircuitFaults of the Type 0 and 1 at the Outputs;
机译:栅极输入处具有恒定故障的“反结合”基础上的电路可靠性
机译:元件输出中单一类型恒定故障下任意完全有限基上电路的可靠性
机译:基于元素输入端的单一类型恒定故障下基于{x y y z,x&y&z,π}的电路的可靠性
机译:恒定深度多数电路计算大部分,扇形大扇形
机译:具有无限扇入门的恒定深度布尔电路的可满足性算法。
机译:使用大数据分析方法研究人类情绪电路的发展:稳定性可靠性和鲁棒性
机译:关于在包含特殊功能的完整有限基础上的元素输出中与类型0的电路的可靠性
机译:逻辑电路复合体的研究:均匀逻辑系统中的可靠性和故障掩蔽