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机译:溅射沉积的多晶铜薄膜在短时间和长时间内的自然氧化:通过镜面和非镜面掠入射X射线吸收光谱进行比较研究
Department of Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut fuer Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Str. 1, D-40237 Duesseldorf, Germany;
Fachbereich C - Institut fuer Experimentalphysik, Bergische Universitaet Wuppertal, Gaussstr. 20, D-42097 Wuppertal, Germany;
Fachbereich C - Institut fuer Experimentalphysik, Bergische Universitaet Wuppertal, Gaussstr. 20, D-42097 Wuppertal, Germany;
A. Copper; A. Sputtered films; B. AFS (EXAFS XANES); C. Atmospheric corrosion; C. Oxidation; C. Passive films;
机译:溅射沉积薄膜的结构研究:反射模式EXAFS,镜面和非镜面X射线散射
机译:结合非镜面X射线散射和X射线吸收光谱法研究埋层
机译:Langmuir表面活性剂膜的比较研究:掠入射x射线镜外散射与x射线镜面反射率
机译:掠入射X射线衍射法测定多晶薄膜的厚度
机译:酞菁铜与氮的相互作用X射线吸收光谱法研究二氧化氮和氨和化学气体测量
机译:结合非镜面X射线散射和X射线吸收光谱研究埋藏层