机译:由低温测量得出的非晶氧化物晶体管中的局部尾态分布
London Center for Nanotechnology, University College London, London WC1H 0AH, United Kingdom;
机译:由低温测量得出的非晶氧化物晶体管中的局部尾态分布
机译:利用低频噪声和温度相关迁移率测量研究非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的界面特性
机译:镓掺杂在大幅降低溶液源性氧化铟锌薄膜晶体管的非晶氧化物处理温度中的作用
机译:沉积参数对低温制造的柔性电子应用的无铟透明非晶氧化物半导体薄膜晶体管的影响研究
机译:用于增强离子注入薄膜和非晶混合氧化物薄膜晶体管性能的新型低温工艺。
机译:使用溶液法低温制造用于非晶铟-镓-氧化锌薄膜晶体管的HfO2钝化层
机译:超薄氧化锌锡薄膜晶体管的局部尾态分布和跳跃传输