机译:原子分辨率下混合阳离子Ⅲ-Ⅴ族半导体界面化学计量的定量
机译:利用相检索高分辨率透射电子显微镜对混合阳离子阴离子III-V半导体界面进行成分分析
机译:复合半导体中缺陷和界面的原子分辨率结构成像
机译:通过高分辨率透射电子显微镜测定半导体异质轴界面的原子尺度化学成分
机译:氢原子与Cu-III-Vl_2黄铜矿半导体表面的相互作用-一种控制化学计量变化的方法
机译:使用三维原子力显微镜对化学相互作用进行原子分辨定量
机译:InGaAs上Al2O3原子层沉积的初始过程:界面形成机理及其对金属-绝缘体-半导体器件性能的影响
机译:在原子分辨率下定量混合阳离子阴离子III-V半导体界面的化学计量
机译:半导体界面的高分辨率Z对比成像的模拟和量化。