机译:用现代高压电子显微镜探测微米级GaN薄膜中的晶体位错
机译:再谈最大可用厚度:通过现代高压扫描透射电子显微镜对硅中的位错成像
机译:通过相关红外光谱纳米瘤和开尔文探针显微镜测量钙钛矿多晶膜中晶界晶界中的电子积累
机译:GaN电子薄膜中位错的光学特性的透射电子显微镜阴极发光法表征
机译:定量研究射频MEMS开关中使用的镍电沉积层的微观结构和结晶纤维质地,包括一种用于多晶膜的新型透射电子显微镜(TEM)技术
机译:通过相关红外光谱纳米瘤和开尔文探针显微镜测量钙钛矿多晶膜中晶界晶界中的电子积累
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