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Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting
Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting
召开年:
2012
召开地:
Phoenix, AZ(US)
出版时间:
-
会议文集:
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1.
Development of Solid State Photomultiplier-Based Electron Imaging Devices
机译:
基于固态光电倍增管的电子成像设备的开发
作者:
N. C. Barbi
;
R. B. Mott
;
D. C. Bono
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
2.
New Results with Next Generation Solid State Backscattered Electron Detectors
机译:
下一代固态背散射电子探测器的新结果
作者:
A.Liebel
;
H.Soltau
;
R.Eckhardt
;
O.Jaritschin
;
A.Niculae
;
F.Schopper
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
3.
Using GPGPU techniques for Scanning Electron Microscope autofocusing
机译:
使用GPGPU技术扫描电子显微镜自动对焦
作者:
N.H.M. Caldwell
;
M. Li
;
B.C. Breton
;
D.M. Holburn
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
4.
On the Gas-Dependent Image Resolution in an Aberration-Corrected ETEM
机译:
像差校正后的ETEM中与气体有关的图像分辨率
作者:
Joerg R. Jinschek
;
Stig Helveg
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
5.
Analysis of Imaging Conditions for Liquid Cell S/TEM
机译:
液体细胞S / TEM成像条件的分析
作者:
K.L. Jungjohann
;
J.E. Evans
;
I. Arslan
;
N.D. Browning
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
6.
On the Fly Determination of Gas Compositions Inside an ETEM Reaction Cell
机译:
ETEM反应池内部气体成分的快速测定
作者:
B.K. Miller
;
S Chenna
;
P.A. Crozier
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
7.
In-situ Liquid and Gas Transmission Electron Microscopy of Nano-Scale Materials
机译:
纳米级材料的原位液体和气体传输电子显微镜
作者:
D.H. Alsem
;
R.R. Unocic
;
G.M. Veith
;
K.L. More
;
N.J Salmon
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
8.
Development of an in-situ High Temperature-High Humidity TEM Observation Technique and Its Application to the Analysis of Catalyst Degradation Mechanism
机译:
原位高温高湿TEM观察技术的发展及其在催化剂降解机理分析中的应用
作者:
Toshie Yaguchi
;
Takashi Kanemura
;
Takahiro Shimizu
;
Daichi Imamura
;
Akira Watabe
;
Hiroaki Matsumoto
;
Takeo Kamino
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
9.
High Angle Environmental Scanning Electron Microscopy for the Study of Dropwise Condensation on Nanostructured Superhydrophobic Surfaces
机译:
高角度环境扫描电子显微镜研究纳米结构超疏水表面上的液滴缩合
作者:
N. Miljkovic
;
R. Enright
;
E.N. Wang
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
10.
Effects of Substrate Modification in Wetting of Hydrophobic Materials inESEM???
机译:
基质改性对ESEM中疏水材料润湿的影响
作者:
M. Castagna
;
M. P. Rossi
;
L. Denault
;
V.S. Smentkowski
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
11.
Identifying Nanostructure in Metallic Glasses using Electron Cross-Correlation Analysis
机译:
使用电子互相关分析鉴定金属玻璃中的纳米结构
作者:
S. N. Bogle
;
M. Rasshchupkyna
;
V. Bugaev
;
M. Castro-Colin
;
P. Wochner
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
12.
Developments in EBSD Pattern Background Removal, Band Detection and Indexing for Improved Data Quality and Ease of Use
机译:
EBSD模式背景去除,频带检测和索引编制方面的发展,以提高数据质量和易于使用
作者:
J. Goulden
;
S.D. Sitzman
;
N.H. Schmidt
;
H.U. Singh
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
13.
Fast Periodicity-Analysis with '4spots' and ImageJ
机译:
使用“ 4spots”和ImageJ进行快速周期性分析
作者:
R. Collins
;
P. Sheehan
;
M. Higley
;
P. Fraundorf
;
D. Osborn
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
14.
Application of Selected Diffraction with STEM to Some Materials
机译:
STEM选择性衍射在某些材料上的应用
作者:
Yuya Suzuki
;
Yasushi Kuroda
;
Hideki Kikuchi
;
Kuniyasu Nakamura
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
15.
Orthogonal Random Layer Lattices or Random Offset Phase Transition?
机译:
正交随机层格还是随机偏移相变?
作者:
R. Collins
;
P. Fraundorf
;
D. Osborn
;
P. Sheehan
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
16.
Software Design for Simulation and Analysis of Electron Diffraction Patterns
机译:
电子衍射图仿真与分析软件设计
作者:
X.Z. Li
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
17.
Analysis Of Gas Flow In The New System Of Apertures In The Secondary Electron Scintillation Detector For ESEM
机译:
ESEM二次电子闪烁检测器新孔径系统中的气流分析
作者:
J. Maxa
;
V. Nedela
;
J. Jirák
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
18.
Scintillation Secondary Electron Detector For ESEM And SEM
机译:
用于ESEM和SEM的闪烁二次电子探测器
作者:
J. Jirak
;
P.Cudek
;
V.Nedela
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
19.
Comparative Study Of Human Embryonic Stem Cell Surface Structure Using SEM And ESEM
机译:
SEM和ESEM对人胚胎干细胞表面结构的比较研究
作者:
E. Flodrova
;
V. Nedela
;
A. Hampl
;
M. Sedlackova
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
20.
Environmental Scanning Electron Microscope As A Tool For Imaging Of Native State Somatic Embryogenesis
机译:
环境扫描电子显微镜作为自然状态的体细胞胚发生成像的工具
作者:
V. Nedela
;
J. Hfib
;
S. Svidenska
;
B. Vookova
;
J. Runstuk
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
21.
Studying CdTe Grain Boundaries by (Aberration Corrected) STEMCathodoluminescence and Electron Beam Induced Current
机译:
通过(像差校正)STEMC阴极发光和电子束感应电流研究CdTe晶界
作者:
Anas Mouti
;
Chen Li
;
Stephen J. Pennycook
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
22.
Hierarchical Nanodomains in Polymer-Fullerene Bulk Heterojunction Solar Cells Observed Using Cc-corrected Energy-Filtered TEM
机译:
使用Cc校正的能量过滤TEM观察到的聚合物-富勒烯本体异质结太阳能电池中的分层纳米域
作者:
J.G. Wen
;
D.J. Miller
;
N.J. Zaluzec
;
W. Chen
;
S.B. Darling
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
23.
Role of Surface Excitations on Secondary Electron Emission from Metals
机译:
表面激发在金属二次电子发射中的作用
作者:
F. Salvat-Pujol
;
W.S.M. Werner
;
F. Salvat
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
24.
Connecting In situ TEM Mechanical Testing with Bulk Properties of Irradiated Materials
机译:
将原位TEM机械测试与辐照材料的整体性能联系起来
作者:
A.M. Minor
;
D. Kiener
;
P. Hosemann
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
25.
EBSD Studies of Ion Implanted Duplex Stainless Steel
机译:
离子注入双相不锈钢的EBSD研究
作者:
J. Davis
;
K. Short
;
R. Wuhrer
;
M. R. Phillips
;
G. R. Lumpkin
;
K. R. Whittle
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
26.
In-Situ TEM Observation of the Grain Size Effect on Radiation Induced Defect Distribution in Iron
机译:
原位TEM观察晶粒尺寸对铁中辐射诱导的缺陷分布的影响
作者:
G. Vetterick
;
C. Barr
;
J.K. Baldwin
;
K. Hattar
;
M. Kirk
;
A. Misra
;
R. Unocic
;
M.L. Taheri
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
27.
Data Quality and Acquisition Time in Energy Dispersive Spectroscopy
机译:
能量色散光谱中的数据质量和采集时间
作者:
Keith J. Thompson
;
Patrick P. Camus
;
David B. Rohde
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
28.
In-Situ TEM in Complex Environments: Photocatalysis
机译:
复杂环境中的原位TEM:光催化
作者:
Y. Liu
;
S.J. Dillon
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
29.
Fast Electron ?? Gas Interactions in an Environmental TEM
机译:
快电子??环境TEM中的气体相互作用
作者:
J. B. Wagner
;
T. W. Hansen
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
30.
Local Temperature Measurement of 1 Bar Gas in a TEM Nanoreactor
机译:
TEM纳米反应器中1 Bar气体的局部温度测量
作者:
S.B. Vendelbo
;
S. Helveg
;
J.F. Creemer
;
B. Morana
;
L. Mele
;
C.C. Appel
;
B.J. Nelissen
;
P.J. Kooyman
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
31.
Vapour-Phase Growth of Ⅲ-Ⅴ Semiconductor Nanowires in situ in the TEM
机译:
TEM中Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线的气相生长
作者:
F. M. Ross
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
32.
In-situ SEM observation of <110> oriented Ge nanowire growth
机译:
<110>取向的Ge纳米线生长的原位SEM观察
作者:
T. Vystavel
;
M. Kolibal
;
L. Novak
;
J. Mach
;
P.Wandrol
;
T. Sikola
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
33.
Cryo-EM Studies of Dynamin-Related Proteins that Regulate Mitochondrial Fission
机译:
调节线粒体裂变的动力蛋白相关蛋白的低温EM研究
作者:
J. Mears
;
F. Alvarez
;
L. Zhou
;
S. Fang
;
J. Hinshaw
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
34.
Application of Electron Tomography to 3-D Structure Determination of Paracrystalline F-actin Bundles
机译:
电子断层扫描在顺晶F-肌动蛋白束3-D结构测定中的应用
作者:
Kenneth A. Taylor
;
Jun Liu
;
Dianne W. Taylor
;
Guiqing Hu
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
35.
Projection-based Volume Alignment
机译:
基于投影的体积对齐
作者:
Lingbo Yu
;
Robert R. Snapp
;
Teresa Ruiz
;
Michael Radermacher
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
36.
Atomic Structure of Bordetella Bacteriophage Reveals a Jellyroll Fold in CementProtein and a Topologically Distinct HK97-like Fold in Major Capsid Protein
机译:
博德特氏菌噬菌体的原子结构揭示了水泥蛋白中的果冻折叠和主要衣壳蛋白中拓扑不同的HK97样折叠。
作者:
Xing Zhang
;
Huatao Guo
;
Lei Jin
;
Ming Xu
;
Jeffery F. Miller
;
Z. Hong Zhou
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
37.
Cryo-EM Reconstruction Of Eilat Alphavirus
机译:
冷冻EM重组埃拉特病毒
作者:
M. B. Sherman
;
F. Nasar
;
S. C. Weaver
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
38.
K2: A Super-Resolution Electron Counting Direct Detection Camera for Cryo-EM
机译:
K2:适用于Cryo-EM的超高分辨率电子计数直接检测相机
作者:
C.R. Booth
;
P.E. Mooney
;
B.C. Lee
;
M. Lent
;
A.J. Gubbens
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
39.
Insights into Energy Materials Through Aberration-Corrected STEM
机译:
通过像差校正的STEM深入了解能源材料
作者:
Pennycook
;
M. Varela
;
A.R. Lupini
;
T.J. Pennycook
;
M.P. Oxley
;
W. Zhou
;
J. Lee
;
J.C. Idrobo
;
S.T. Pantelides
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
40.
STEM Imaging of Trimerization-Polarization Domain Walls in Hexagonal ErMnO_3
机译:
六角形ErMnO_3中三聚化极化畴壁的STEM成像
作者:
Myung-Geun Han
;
Lijun Wu
;
Toshihiro Aoki
;
Nara Lee
;
Seung Chul Chae
;
Sang-Wook Cheong
;
Yimei Zhu
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
41.
Shape Control of Nanostructures in Na doped PbTe-PbS system
机译:
Na掺杂PbTe-PbS系统中纳米结构的形状控制
作者:
Jiaqing He
;
S. N. Girard
;
Hui-Qiong Wang
;
I. Blum
;
Jin-Cheng Zheng
;
D. N. Seidman
;
M. G.Kanatzidis
;
V. P. Dravid
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
42.
Probing Nanoparticle Magnetism by Aberration Corrected STEM-EELS
机译:
通过像差校正STEM-EELS探测纳米粒子磁性
作者:
J. Gazquez
;
J. Salafranca
;
N. Perez
;
A. Labarta
;
S. T. Pantelides
;
S. J. Pennycook
;
X. Batlle
;
M. Varela
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
43.
Towards Quantifying Catalyst Losses from Fuel Cell Electrodes: An Electron Microscopy Study
机译:
试图量化燃料电池电极的催化剂损失:电子显微镜研究
作者:
D.A. Cullen
;
K.L. More
;
R.T. Atanasoski
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
44.
The Structure of Epitaxially-Stabilized BiVO4 Optimized for Photocatalysis
机译:
优化用于光催化的外延稳定BiVO4的结构
作者:
Qingyun Mao
;
Stephanie A. Stoughton
;
Michael Showak
;
Ye Zhu
;
Carolina Adamo
;
Darrell G.Schlom
;
David A. Muller
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
45.
Structures of CdSe/ZnTe Core-shell Nanowires for Photovoltaic Application
机译:
光伏应用CdSe / ZnTe核壳纳米线的结构
作者:
Kai Wang
;
Baobao Cao
;
Yanfa Yan
;
Weilie Zhou
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
46.
Investigation of Radiation Effects on the Properties of Organic Semiconductors Using Low-Dose TEM Analysis
机译:
低剂量TEM分析研究辐射对有机半导体性能的影响
作者:
Dalaver H. Anjum
;
Rachid Sougrat
;
Kui Zhao
;
Aram Amassian
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
47.
Electron Backscattered Diffraction and Transmission Electron Microscopy Analysis of Ribbon Silicon
机译:
带状硅的电子背散射衍射和透射电镜分析
作者:
Sergei Rouvimov
;
Edward Tsidilkovski
;
John J. Donovan
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
48.
Characterization of Silver Nanowires by Scanning Electron Microscopy and Image Analysis
机译:
扫描电镜和图像分析表征银纳米线
作者:
Peter Eastman
;
George Athens
;
Garo Khanarian
;
Xiang-Qian Liu
;
Andre Malek
;
Daniel Werner
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
49.
Characterization of ??eteroepitaxial ??ultiferroic ??nterface BiFeO_3/SrTiO_3/Si by Cs-Corrected STEM
机译:
Cs校正的STEM表征外延外延性表面BiFeO_3 / SrTiO_3 / Si
作者:
Jesús Cantú-Valle
;
Arturo Ponce
;
Ravi Droopad
;
Rocío Contreras-Guerrero
;
Miguel José-Yacaman
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
50.
Electron Backscatter Diffraction Characterization of Nanostructured Thermoelectric Materials
机译:
纳米结构热电材料的电子背散射衍射特性
作者:
M.M. Nowell
;
J. Beck
;
M. Alvarado
;
D. Nemir
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
51.
Advantage of Cc/Cs-corrected Imaging in 30 kV Transmission Electron Microscopy
机译:
Cc / Cs校正成像在30 kV透射电子显微镜中的优势
作者:
T. Sasaki
;
H. Sawada
;
F. Hosokawa
;
T. Kaneyama
;
Y. Kondo
;
K. Kimoto
;
K. Suenaga
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
52.
Tilted Dark Field TEM of Twinning and Twisting in Tri- and Bi-layer Graphene
机译:
三层和双层石墨烯中孪生和扭曲的倾斜暗场TEM
作者:
Robert Hovden
;
Lola Brown
;
Pinshane Huang
;
Michal Wojik
;
David A. Muller
;
Jiwoong Park
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
53.
Atomic-Scale Imaging of Graphene-Based Nanoporous Carbon
机译:
石墨烯基纳米多孔碳的原子尺度成像
作者:
Junjie Guo
;
James R. Morris
;
Yungok Ihm
;
Cristian I. Contescu
;
Nidia C. Gallego
;
Gerd Duscher
;
Stephen J. Pennycook
;
Matthew F. Chisholm
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
54.
STEM and STEM EELS Characterization of Low Defect Density,Smooth Fe_3O_4 Thin Films on Buffered Si by Thermodynamically Controlled Selective Oxidation
机译:
通过热力学控制的选择性氧化,在缓冲硅上形成低缺陷密度,光滑的Fe_3O_4薄膜的STEM和STEM EELS表征
作者:
Fengyuan Shi
;
Hua Xiang
;
Mark S. Rzchowski
;
Y.Austin Chang
;
Paul M. Voyles
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
55.
Progress with the Sandia Titan G2 80-200 with 0.7sr Integral SDD Array
机译:
具有0.7sr集成SDD阵列的Sandia Titan G2 80-200的进步
作者:
Paul G. Kotula
;
Ping Lu
;
Jan Ringnalda
;
Don F. Susan
;
Zahra Ghanbaril
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
56.
Initial Results from a 200 kV UltraSTEM
机译:
200 kV UltraSTEM的初步结果
作者:
A.R. Lupini
;
D. Hernandez- Maldonado
;
S. I. Molina
;
S.J. Pennycook
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
57.
Spatially-Resolved Diffractometry with Atomic-Column Resolution
机译:
具有原子列分辨率的空间分辨衍射
作者:
K. Kimoto
;
K. Ishizuka
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
58.
Monochromated STEM with High Energy and Spatial Resolutions
机译:
具有高能量和空间分辨率的单色STEM
作者:
Ondrej L. Krivanek
;
Tracy C. Lovejoy
;
George J. Corbin
;
Niklas Dellby
;
Matthew F. Murfitt
;
NathanKurz
;
Philip E. Batson
;
Ray W. Carpenter
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
59.
Scanning Confocal Electron Microscopy (SCEM) Combined with Deconvolution Technique
机译:
扫描共聚焦电子显微镜(SCEM)结合反卷积技术
作者:
M. Takeguchi
;
X. Zhang
;
A. Hashimoto
;
K. Mitsuishi
;
M. Shimojo
;
P. Wang
;
P. D.Nellist
;
A. I. Kirkland
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
60.
Development of an Ad-Hoc Aberration Auto-tuning Procedure on an Oriented Crystalline Specimen in Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy: The SIAM Method
机译:
像差校正扫描透射电子显微镜中定向晶体标本的Ad-Hoc像差自动调谐程序的开发:SIAM方法
作者:
H. Sawada
;
M. Watanabe
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
61.
Benefits of Aberration-corrected STEM and EELS in the Study of Nanoscale Materials for Energy and Photonic Applications
机译:
像差校正后的STEM和EELS在能量和光子应用纳米级材料研究中的优势
作者:
F. Nan
;
S. Hosseini Vajargah
;
D. Rossouw
;
S. Y. Woo
;
M. Bugnet
;
M.C.Y. Chan
;
N. Gauquelin
;
S.Stambula
;
G. Zhu
;
G.A. Botton
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
62.
Planar Defects in Patterned GaAs by Aberration Corrected STEM
机译:
通过像差校正的STEM图案化的GaAs中的平面缺陷
作者:
R. dos Reis
;
Z. Liliental-Weber
;
C.Ophus
;
J. Jimenez
;
M. Snure
;
B. Gerard
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
63.
Quantitative Atomic-resolution Imaging and Spectroscopy of a 2D Silica Glass
机译:
二维硅玻璃的定量原子分辨率成像和光谱学
作者:
Pinshane Y. Huang
;
Simon Kurasch
;
Robert Hovden
;
Qingyun Mao
;
Jani Kotakoski
;
ArkadyV. Krasheninnikov
;
Anchal Srivastava
;
Viera Skakalova
;
Jannik C. Meyer
;
Jurgen Smet
;
David A. Muller
;
Ute Kaiser
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
64.
Polycrystalline TiO_2 Produced by Electrospinning
机译:
电纺制多晶TiO_2
作者:
Aravind Suresh
;
M. Josefina Arellano-Jiménez
;
Jeffrey McCutcheon
;
C. Barry Carter
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
65.
Size/Shape-Controlled Synthesis and Low-Temperature Reactivity of Ceria
机译:
二氧化铈的尺寸/形状控制的合成和低温反应性
作者:
Ruigang Wang
;
Samuel I. Mutinda
;
Dingqiang Li
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
66.
Microstructural evolution of LiM_xO_2 (M=Mn,Ni,Co,Al) battery cathode material as a function of cycling
机译:
LiM_xO_2(M = Mn,Ni,Co,Al)电池正极材料的微观结构演变与循环的关系
作者:
Dean J. Miller
;
Kayla Cooley
;
J.G. Wen
;
Daniel J. Abraham
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
67.
Atomic Level Direct Imaging of Cation Ordering and Phase Separation in Li_(1.2)Ni_(0.2)Mn_(0.6)O_2 Nanoflakes
机译:
Li_(1.2)Ni_(0.2)Mn_(0.6)O_2纳米薄片中阳离子有序和相分离的原子级直接成像
作者:
Meng Gu
;
Dapeng Wang
;
Ilias Belharouak
;
Khalil Amine
;
Guangwen Zhou
;
Ji-Guang Zhang
;
Suntharampillai Thevuthasan
;
Jun Liu
;
Nigel D. Browning
;
Chongmin Wang
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
68.
Probing short-range order in ??γ-Fe_2O_3 as a function of Ce addition
机译:
探测γγ-Fe_2O_3中短程有序作为Ce添加的函数
作者:
B. D. Gauntt
;
P. Lu
;
E. Spoerke
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
69.
Probing Graphene on the Nanoscale by Scanning Tunneling Microcopy
机译:
通过扫描隧道显微镜在纳米级探测石墨烯
作者:
M. Morgenstern
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
70.
High-Resolution Characterization of Activated Graphene for Supercapacitor Applications
机译:
超级电容器应用中活化石墨烯的高分辨率表征
作者:
E.A. Stach
;
D. Su
;
P. Ercius
;
K. J. Ganesh
;
P.J. Ferreira
;
Y. Zhu
;
K. Yager
;
S. Murali
;
M.D. Stoller
;
W. Cai
;
Adam Pirkle
;
Robert M. Wallace
;
Katie A. Cychosz
;
Matthias Thommes
;
R.S. Ruoff
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
71.
Investigating the Spatial Distribution of Plasmon Modes in Carbon Cones
机译:
研究碳锥中等离子模式的空间分布
作者:
F.S. Hage
;
D.M. Kepaptsoglou
;
Q.M. Ramasse
;
C.R. Seabourne
;
R. Brydson
;
Ø. Prytz
;
A.E. Gunnæs
;
G. Helgesen
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
72.
In-situ TEM Observation of keV-Ion Irradiation of Single-Walled Carbon Nanotubes and Single-Walled Boron Nitride Nanotubes
机译:
单壁碳纳米管和单壁氮化硼纳米管对keV离子辐照的原位TEM观察
作者:
R. Arenal
;
A.C.Y. Liu
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
73.
Surfactant Peptide/SWNT Composites with Altered Electronic Properties
机译:
具有改变的电子性能的表面活性剂肽/ SWNT复合材料
作者:
D.R. Samarajeewa
;
G.R. Dieckmann
;
S.O. Nielsen
;
I.H. Musselman
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
74.
Effects of Surface Chemistry and Crystal Size on Raman Spectra of Nanodiamond
机译:
表面化学和晶体尺寸对纳米金刚石拉曼光谱的影响
作者:
V. Mochalin
;
S. Osswald
;
Y. Gogotsi
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
75.
The Growth of Graphene, Carbon Nanotubes and Other Carbon Nanomaterials Studied In-Situ in the Electron Microscope
机译:
电子显微镜原位研究石墨烯,碳纳米管和其他碳纳米材料的生长
作者:
J. A. Rodríguez-Manzo
;
F. Banhart
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
76.
In Situ Measurement of the Effect of Ni Oxidation on Carbon Nanotube Growth Mechanisms
机译:
镍氧化对碳纳米管生长机理影响的原位测量
作者:
R. Sharma
;
P. Rez
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
77.
Imaging the Atoms in a Two-Dimensional Silica Glass on Graphene
机译:
在石墨烯上二维石英玻璃中的原子成像
作者:
Pinshane Y. Huang
;
Simon Kurasch
;
Anchal Srivastava
;
Viera Skakalova
;
Jani Kotakoski
;
Arkady V. Krasheninnikov
;
Robert Hovden
;
Qingyun Mao
;
Jannik C. Meyer
;
Jurgen Smet
;
David A. Muller
;
Ute Kaiser
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
78.
In situ Observations of Nanopores and SiC Nanoparticles on Graphene using Electron Beam Irradiation and Heating
机译:
电子束辐照和加热对石墨烯上纳米孔和SiC纳米颗粒的原位观察
作者:
Ning Lu
;
Herman C. Floresca
;
Jinguo Wang
;
Moon J. Kim
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
79.
Nanomorphology of P3HT:PCBM-based Organic Solar Cells Analyzed by Low- Energy Scanning Transmission Electron Microscopy
机译:
低能扫描透射电镜分析P3HT:PCBM基有机太阳能电池的纳米形态
作者:
M. Pfaff
;
M. F. G. Klein
;
E. Müller
;
P. Müller
;
A. Colsmann
;
U. Lemmer
;
D. Gerthsen
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
80.
Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope
机译:
电子显微镜下电子束诱导的石墨烯膜破坏的定量分析
作者:
F. Eder
;
J. C. Meyer
;
S. Kurasch
;
V. Skakalova
;
J. Kotakoski
;
A. Krasheninnikov
;
A. Chuvilin
;
U. Kaiser
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
81.
Development of a New Specimen Holder for Simultaneous Bright Field and Dark Field STEM-IN-SEM Imaging of Polymer Systems
机译:
聚合物系统同时进行明场和暗场STEM-IN-SEM成像的新样品架的开发
作者:
B. Patel
;
M. Watanabe
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
82.
Electron Microscopy and Spectroscopy Analysis of Carbon Nanostructures in Highly Fertile Amazonian Anthrosoils
机译:
电子显微镜和光谱学分析高肥沃的亚马逊人油中的碳纳米结构
作者:
B. S. Archanjo
;
D. L. Baptista
;
E. H. Martinz-Ferreira
;
J. R. Soares
;
L. G. Cançado
;
N. P. S. Falcão
;
H. F. Dos Santos
;
A. Jorio
;
C. A. Achete
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
83.
Carbon Nano Test Tubes - a New Analytical Tool for Characterisation of Molecules
机译:
碳纳米试管-表征分子的新分析工具
作者:
Andrei N. Khlobystov
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
84.
Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Patterns of Imperfect Crystals
机译:
不完全晶体的电子反向散射衍射(EBSD)模式的动力学模拟
作者:
G.Nolze
;
A. Winkelmann
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
85.
Water-driven Growth of Graphene Monoxide Revealed by In Situ Infrared and Electron Microscopy, Diffraction and Spectroscopy
机译:
原位红外和电子显微镜,衍射和光谱显示水驱动的一氧化石墨烯生长
作者:
E.C. Mattson
;
J. Zhu
;
M.A. Schofield
;
G.H. Lu
;
S. Cui
;
H. Pu
;
S.H. Rhim
;
M. Weinert
;
J.H. Chen
;
P. Crozier
;
C.J. Hirschmugl
;
M. Gajdardziska-Josifovska
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
86.
Enhanced Quantitative Characterization Of Textured Al-doped ZnO Thin Films Using Plan-view Electron Diffraction
机译:
平面电子衍射增强的Al掺杂的ZnO薄膜的定量化特性
作者:
P. Lu
;
Q. Jiang
;
J. Wang
;
B. Dong
;
G. Fang
;
X. Zhao
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
87.
Carbon Phases Developed during Mechanical Milling of C soot and Metals
机译:
碳黑和金属的机械研磨过程中形成的碳相
作者:
F.C. Robles-Hernandez
;
D. Barber
;
H.A. Calderon
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
88.
Phase Reconstruction Of Electron Waves Using Diffractive Imaging
机译:
使用衍射成像的电子波相位重建
作者:
J. Yamasaki
;
K. Ota
;
S. Morishita
;
H. Sasaki
;
N. Tanaka
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
89.
A Comparative Study of an Alumina-MWCNTs Nanocomposite Synthesized by Two Different Routes
机译:
两种不同途径合成氧化铝-纳米碳管纳米复合材料的比较研究
作者:
I. Estrada-Guel
;
M.H. Bocanegra-Bernal
;
R. Martínez-Sánchez
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
90.
Quantitative In Situ Selected Area Electron Diffraction of Vacuum Thermally Reduced Graphene Oxide
机译:
真空热还原氧化石墨烯的定量原位选择电子衍射
作者:
M.A. Schofield
;
E.C. Mattson
;
G. Lu
;
H. Pu
;
S. Cui
;
S.H. Rhim
;
M. Weinert
;
J. Chen
;
C.J. Hirschmugl
;
M. Gajdardziska-Josifovska
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
91.
Helium-Ion Microscopy Of Carbon Nanomembranes
机译:
碳纳米膜的氦离子显微镜
作者:
A. Beyer
;
A. Gölzhäuser
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
92.
Visualizing Structure and Elemental Content in Complex Materials and Biological Samples by Hard X-ray Microscopy
机译:
用硬X射线显微镜观察复杂材料和生物样品中的结构和元素含量
作者:
S. Vogt
;
S.-C. Gleber
;
D. Vine
;
L. Trahey
;
L. Makowski
;
M. de Jonge
;
M. Krejci
;
D. Joester
;
L. Finney
;
J. Ward
;
J. Maser
;
B. Lai
;
C. Jacobsen
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
93.
Cryo-TEM Study on Hierarchical Self-Assembly of Amelogenin and Regulation of Biomineralization at the Nanoscale
机译:
Amelogenin的分层自组装和生物矿化的纳米调控的Cryo-TEM研究。
作者:
Ping-An Fang
;
James F. Conway
;
Henry C. Margolis
;
James P. Simmer
;
Elia Beniash
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
94.
Monochromated Low-Voltage Aberration-Corrected TEM for Imaging the Soft/Hard Materials Interface
机译:
单色低电压像差校正TEM,用于对软/硬材料界面进行成像
作者:
David C. Bell
;
Brian P. Timko
;
Daniel S. Kohane
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
95.
Diffusion Processes in Ionic Liquids Observed via Low Voltage ScanningElectron Microscopy
机译:
低压扫描在离子液体中的扩散过程电子显微镜
作者:
A.E. Ribbe
;
P. Kim
;
D. Hoagland
;
T.P. Russell
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
96.
Sub-cellular Dynamic Mechanical Response Measurements of Live Human Pulmonary Artery Endothelial Cells with Atomic Force Microscopy
机译:
原子力显微镜对活人肺动脉内皮细胞亚细胞动态力学响应的测量
作者:
Shraddha Avasthy
;
Gina Mirela Mustata
;
Mary E. Brown
;
Yoshiki Ishikawa
;
Gajendra S. Shekhawat
;
Joe G. N. Garcia
;
Steven M. Dudek
;
Vinayak P. Dravid
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
97.
In-situ Study of Nb Oxide and Hydride on Thin Films using Electron Energy Loss Spectroscopy
机译:
电子能量损失谱法原位研究薄膜上Nb氧化物和氢化物
作者:
R. Tao
;
R. F. Klie
;
A. Romanenko
;
L. Cooley
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
98.
Low kV Analysis of the Atomic Structure and Bonding at Complex Oxide - Semiconductor Hetero-interfaces
机译:
复杂氧化物-半导体异质界面原子结构和键合的低kV分析
作者:
Q. Qiao
;
S. Ogut
;
R. F. Klie
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
99.
Clathrin Self-Assembly Templates For Gold Nanoparticle Nucleation
机译:
网格蛋白自组装模板用于金纳米粒子成核
作者:
M. A. Arunagirinathan
;
K. N. L. Huggins
;
A. P. Schoen
;
S. C. Heilshorn
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
100.
Aberration-corrected High Resolution Transmission Electron Microscopy of [(SnSe)_(1+δ)]m[MoSe_2]_n films
机译:
[(SnSe)_(1 +δ)] m [MoSe_2] _n膜的像差校正高分辨率透射电子显微镜
作者:
Sergei Rouvimov
;
Matt Beekman
;
Kurt Langworthy
;
David C. Johnson
;
Wolfgang Neumann
会议名称:
《Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting》
|
2012年
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