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Zone-doubled Fresnel zone plates for high-resolution hard X-ray full-field transmission microscopy

机译:双倍菲涅耳波带片用于高分辨率硬X射线全场透射显微镜

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摘要

Full-field transmission X-ray microscopy is a unique non-destructive technique for three-dimensional imaging of specimens at the nanometer scale. Here, the use of zone-doubled Fresnel zone plates to achieve a spatial resolution better than 20 nm in the hard X-ray regime (8–10 keV) is reported. By obtaining a tomographic reconstruction of a Ni/YSZ solid-oxide fuel cell, the feasibility of performing three-dimensional imaging of scientifically relevant samples using such high-spatial-resolution Fresnel zone plates is demonstrated.
机译:全场透射X射线显微镜技术是一种独特的无损技术,用于对纳米级标本进行三维成像。在这里,据报道在硬X射线(8–10 keV)条件下,使用倍增的菲涅耳波带片实现了优于20 nm的空间分辨率。通过获得Ni / YSZ固体氧化物燃料电池的断层图像重建,可以证明使用此类高空间分辨率菲涅耳波带片进行科学相关样品的三维成像的可行性。

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