首页> 中文期刊> 《真空电子技术》 >多晶半导体三碱光电阴极厚度的理论研究

多晶半导体三碱光电阴极厚度的理论研究

         

摘要

本文利用辐射强度指数衰减率和多碱阴极光吸收系数公式,首次研究了多晶半导体三碱光电阴极的最佳厚度,研究结果表明:当Ia/Io大于0.4时,阴极厚度应在100nm以上,并且D随Ia/Io上升而增加,高能光子产生的光电子出现在阴极内表面层。并首次从理论上预测了对红外敏感的在可见光范围具有很高响应的三碱阴极的最佳厚度为120nm左右,这与实验结果非常一致。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号