电子元器件散粒噪声特性及测试方法

摘要

在高科技技术不断发展的今天,电子元件方面的研究变得越来越深入,并且,部分研究表明电子元件的散粒噪声与器件内部有着紧密联系,必须不断提高器件的可靠性,才能真正降低电子元件的散粒噪声情况,最终满足电子元件的实际运行需求。本文就电子元器件散粒噪声特性进行全面分析,提出电子元器件散粒噪声的测试方法,以对电子元器件散粒噪声有更全面的了解,从而为电子元件的实际应用提供可参考依据。