首页> 中文期刊> 《传感器世界》 >NanoCalc光学薄膜厚度测量系统

NanoCalc光学薄膜厚度测量系统

         

摘要

海洋光学的NanoCalc系统利用了光谱反射测量技术,为半导体、医疗和工业环境领域的客户提供光学薄膜厚度的精确测量。新款预配置NanoCalc系统面向客户及新型应用,适合深紫外到近红外波段的检测。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号