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吴琪乐;
TSV; 纳米技术; 通孔; 电子应用; 萨拉; 特殊生产; 工艺节点; 电子设备; 技术节点; 晶体管级;
机译:GlobalFoundries和ARM展示高性能计算应用的高密度3D堆叠测试芯片
机译:在带有TSV的3D IC中堆叠芯片后,重新激活备用芯片上的存储器
机译:具有高熔点的可靠单相微关节,用于3D TSV芯片堆叠
机译:3D芯片堆叠中用于硅中介层的光学多模TSV波导的实现
机译:基于TSV的3D堆叠式IC的测试设计和测试优化技术。
机译:具有3D堆叠140 GOPS列并行PE的1 ms高速视觉芯片的设计和性能
机译:通过3D堆叠将内存和控制器与光子学用3D堆叠,以实现可扩展和节能的系统
机译:光学引导基板,用于堆叠多芯片模块和芯片级封装中的低成本光互连
机译:使用能够在厚度均匀的堆叠芯片的TSV周围镀金属层的化学镀层粘合堆叠芯片的方法
机译:使用通过倒装芯片键合和电线堆叠在基板上的TSV来堆叠芯片的半导体封装
机译:在3d芯片堆栈中测试tsvs的方法和装置
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