用于纳米超大规模集成电路设计的统计性能分析及建模技术

摘要

随着技术尺度下降到纳米范畴、工艺方法的变化和芯片性能的不确定性变得更加明显。对于超大规模集成电路（VL—SI）芯片的成功设计而言，对从器件到系统结构变化的准确和有效的建模或者表征已经必不可少。