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谢劲松; 陈颖; 乔书晓;
北京航空航天大学,北京,100083;
深圳兴森快捷电路科技股份有限公司,广东,深圳,518053;
印制电路板; 镀通孔; 制程可靠性; 制程参数; 失效机理;
机译:由于插入安装的顺应针连接器而导致的镀通孔的可靠性问题
机译:镀铜浴中光亮剂对镀通孔的投掷功率和热可靠性的影响
机译:微型通孔到镀通孔的邻近度及其对这些微型通孔可靠性的影响
机译:使用镀硅通孔,铜柱组装和流体冷却技术开发3D VLSI集成技术。
机译:硅通孔在传感器应用中的热机械可靠性风险研究
机译:强制流镀单元中多层板镀通孔中电镀铜的搅拌效果研究
机译:双面印刷线路板蚀刻镀通孔的电导率研究。
机译:通信终端自动删除问卷调查研究的可靠性问题的方法和系统
机译:镀通孔可靠性的图像分析方法
机译:LANDLESS镀通孔光阻制程
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