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郝跃; 贾新章; 姚立真;
西安电子科技大学微电子研究所;
集成电路; 多目标; 优化设计; 成品率;
机译:利用成品率预测集成电路的长期可靠性:Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov模型的应用
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机译:集成电路的成品率可靠性建模:理论和实验验证。
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机译:用于数字集成电路的参数成品率预测的统计时序
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