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梁鸿生;
西安理工大学自动化与信息工程学院,陕西,西安,710048;
金属膜厚度; 无损测量; 电涡流;
机译:用光学激发表面等离激元法测定金属膜上无损耗介电层的相对介电常数和厚度
机译:基于径向基函数神经网络X射线荧光的铝化厚度无损测量研究
机译:用多层金属膜在有限压力下通过多层金属膜扩散转移的数学建模
机译:测量金属膜厚度的新无损方法
机译:通过弹道电子发射显微镜和电阻率测量研究了外延金属膜中的电子传输。
机译:金属膜厚度对激光脉冲点燃有机炸药的影响
机译:多层吸收材料的厚度无损测量研究
机译:红外镜中金属膜厚度要求
机译:超薄金属膜,超薄多层金属膜以及制造超薄金属膜或超薄多层金属膜的方法
机译:气体检测装置,例如用作金属绝缘体半导体组件中的化学FET具有金属膜,该金属膜的孔径宽度包括绝缘体材料的厚度与厚度之比,其中材料位于孔径区域
机译:测量涡流型非磁性金属膜厚度的方法和执行该方法的测量涡流型非磁性金属膜厚度的装置
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