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β-Ga2O3单晶浮区法生长及其光学性质

         

摘要

用浮区法生长得到了宽禁带半导体材料β-Ga2O3单晶,对其吸收光谱、荧光光谱进行了分析.解释了禁带部分展宽的原因.并研究了Sn4+和Ti4+的掺杂对其紫外吸收边影响.β-Ga2O3单晶的荧光谱不仅观察到了3个特征峰:紫外光(395nm)、蓝光(471nm)、绿光(559nm),还观察到了在277和297nm的紫外光和692nm的红光荧光发射.

著录项

  • 来源
    《功能材料》 |2006年第3期|358-360,363|共4页
  • 作者单位

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院,研究生院,北京100039;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院,研究生院,北京100039;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    通用电气中国研究开发中心有限公司,上海,201203;

    通用电气中国研究开发中心有限公司,上海,201203;

    通用电气中国研究开发中心有限公司,上海,201203;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 晶体生长工艺;
  • 关键词

    浮区法; 宽禁带半导体; β-Ga2O3单晶;

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