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一种自动测试设备用混合式智能型开关矩阵

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摘要

在将自动测试设备(ATE)应用于印制电路板(PCB)的测试中,开关矩阵的性能将直接影响到ATE的通用性.针对传统的开关矩阵设计方法,提出了一种混合式智能型开关矩阵,将其应用于KLJ95-1型雷达电路单元自动测试设备中,获得了满意的效果.

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来源
《装备学院学报》 |2002年第5期|81-84|共4页
作者
张列刚; 肖文杰; 杨江平;
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作者单位

空军雷达学院,雷达系统工程系,武汉,430019;

空军雷达学院,雷达系统工程系,武汉,430019;

空军雷达学院,雷达系统工程系,武汉,430019;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调整、测试;
关键词
测试; 自动测试设备; 开关矩阵;

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