110℃热释光陷阱光转移现象的数值模拟

摘要

在光释光(optically stimulated luminescence,OSL)测年流程中,通常采用预热(180?—?260℃)来去除低温区不稳定的信号.尽管预热过程中浅陷阱(如110℃陷阱)电子被清空,但在之后的光照过程中由较深陷阱进入导带的电子会再次进入浅陷阱并发生积累,这种现象称为光转移(photo-transfer).本文以110℃热释光(thermoluminescence,TL)信号的实验数据为基础,模拟了光转移现象,研究了不同实验条件(激发温度、光子通量)和不同动力学参数(110℃TL陷阱的空间容量、入陷概率、光电离截面)对光转移过程的影响,结果显示:激发温度越高、光子通量越大、110℃?TL陷阱的光电离横截面越大,光转移信号越弱;110℃?TL陷阱的空间容量和入陷概率越大,光转移信号越强.模拟结果揭示了影响光转移程度的因素,加深了对光激发过程中OSL信号产生的物理机制的认识.