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王凤莲; 李莹;
中国科学院物理研究所,北京电镜实验室,北京,100080;
透射电子显微镜; 薄膜样品; 样品制备; 微结构分析;
机译:X2固定器在FIB进行HRTEM品质TEM样品制备中的实际应用
机译:在TEM样品制备中使用永久性标记物沉积保护层以防止FIB损坏
机译:TEM样品制备中的故障排除(固定,脱水,包埋)
机译:一种防止TEM样品制备中的光刻胶变形的新型局部油墨涂布方法
机译:用原位TEM方法探测钇铁石榴石薄膜薄膜的形态学
机译:化学抛光在锆合金TEM样品制备中的应用
机译:DWpF模拟设备中直接溶解样品瓶插入样品的协方差矩阵
机译:用于在无损伤样品的情况下将样品保护层涂覆到时间间隔较短的涂层上的装置和方法,以用于制造用于TEM分析的样品和用于TEM分析的形式样品
机译:TEM样品制备方法,TEM样品和薄截面样品
机译:TEM样品的制造装置和使用该样品的TEM样品的制造方法
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