基于X射线断层扫描的小麦籽粒霉变结构研究

摘要

食品微观结构在确定其最终产品性能方面起着至关重要的作用,霉菌又是粮食储藏期危害非常严重的微生物类群,目前对粮粒感染霉菌后的研究多是间接的、破坏性的,无损的研究食品感染霉菌后内部微观结构的变化非常困难.X射线断层扫描技术提供了一个极好的工具来无损的评估食品内部的组分,本研究利用X射线断层扫描法实现了小麦籽粒发霉后内部特征的三维可视化和定量分析.利用图像滤波、阈值分割、重建算法对X射线断层扫描获取的图像进行重建和渲染,实现了感染籽粒及内部孔隙的三维可视化,除了可视化还获取了如籽粒体积、籽粒内部孔隙率等参数.X射线断层扫描是一种强有力的工具,可以用于粮食储藏期间易发霉部位如(粮仓墙壁附近、粮粒表层)以及粮食在深加工前是否霉变的区分检测,用于无损检测单颗小麦籽粒等生物材料的损伤和微观结构组织的变化.