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半导体表面薄膜的有效量子限制长度和极化子研究

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摘要

采用提出的等效方法,确定Al_xGa_(1-x)As衬底上GaAs表面薄膜的量子限制长度,在此基础上确定了GaAs薄膜的分数维,进一步利用分数维方法研究了Al_xGa_(1-x)As衬底上GaAs表面薄膜中的极化子特性.

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来源
《北京师范大学学报：自然科学版》 |2017年第4期|395-398|共4页
作者
李华; 刘炳灿; 田强;
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作者单位

装甲兵工程学院基础部;

北京师范大学物理学系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类凝聚态物理学;
关键词
有效量子限制长度; 分数维方法; 极化子; GaAs薄膜;

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