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机译:遵循新颖的IEC 62220-1-1:2015国际标准确定CMOS / CsI成像探测器的探测量子效率(DQE)
机译:气体光子探测器中CsI量子效率演化的测量
机译:大面积CsI光电探测器的量子效率测量系统
机译:同步加速器测量CsI涂层微通道板的绝对X射线量子效率
机译:开发CSI涂层微通道板探测器的软X射线性能
机译:CSI-CMOS X射线检测器的侦探量子效率用于高动态范围和高灵敏度模式运行的乳房断层合成
机译:从CsI到CsI的光电子提取效率的测量 Ne与CH4,CF4,CO2和N2的混合物
机译:通道壁上CsI沉积增强微通道板增益。
机译:光电探测器的光谱特性测量仪器,光谱特性测量方法,内部量子效率测量仪器和内部量子效率测量方法
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