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量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器

摘要

本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤:步骤(S10),将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置;步骤(S12),向试样照射激发光,并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量;步骤(S20),将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射;步骤(22),向试样照射激发光,并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量;步骤(S40、S42、S46),基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。

著录项

  • 公开/公告号CN102192786B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大*电子株式会社;

    申请/专利号CN201110069976.0

  • 发明设计人 大泽祥宏;大久保和明;

    申请日2011-03-18

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-29

    授权

    授权

  • 2013-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/443 申请日:20110318

    实质审查的生效

  • 2011-09-21

    公开

    公开

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