上颌第二磨牙根尖孔位置研究及其临床意义

摘要

目的:观察离体上颌第二磨牙213颗,观测根尖孔在根尖的位置分布特点.方法:采用体视显微镜观测根尖孔的位置,并测量根尖孔到根尖的距离.结果:根尖孔位于解剖性根尖顶点的为44.6％,旁侧开口占55.4％,旁侧根尖孔距根尖顶部的平均距离为1mm.结论:根尖孔大部分位于根尖旁,且上颌第二磨牙根尖孔至根尖的距离并不相等,因此不能只凭X线片确定工作长度,应考虑将X线片与根管长度测量仪相结合,才能得出更准确的结果.