如何满足下一代PCI高速总线的测试需要

摘要

随着越来越多的新型器件设计采用PCI高速总线，集成电路制造商在新串行总线测试方面正面临新的挑战。对于数字总线，传统的功能和参数测试已经足够，但是由于PCI高速总线结合了2．5Gbps的数据传输率、时钟嵌入数据、多信道和复杂的通讯协议，使得传统的测试方法面临挑战。