降低数字集成电路测试功耗的向量排序方法

摘要

分析研究测试数字集成电路期间产生的功耗问题,在此基础之上提出新的测试向量排序方式,希望能够将测试期间电路的翻转次数减低.按照测试特征以及电路结构等可以使该方法对输入影响度系数进行计算,在对故障覆盖率不产生影响的基础之上对测试功效进行降低处理.通过试验可以看出,该种方式在实际测试期间能够至少降低47.24％的功耗,可以在测试中推广使用.