NI全新模块化仪器套件有效扩展PXI系统在半导体测试领域中的应用

摘要

美国国家仪器有限公司近日发布10款全新PXI产品，有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计，包含四个高速数字I／O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。全新的NIPXI半导体套件包含多种新特性，包括200MHz单端数字I／O、10pA电流分辨率、快速多频带射频测量、直流／数字开关和波形发生语言（WGL）以及IEEE 1450标准测试接口语言（STIL）文件导入功能。