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Badih El-Kareh;
TEXAS INSTRUMENTS;
超高速高精度模拟集成电路; SOI; SiGe; BiCMOS; 电介质绝缘;
机译:新的互补(npn $ + $ pnp)SiGe HBT技术在厚膜SOI上的单事件瞬态硬度
机译:质子和X射线辐射对互补(npn + pnp)SiGe HBT在厚膜SOI上的直流和交流性能的影响
机译:温度对高压(> 30 V)互补SiGe-on-SOI技术的单事件瞬态响应的影响
机译:适用于高速精密模拟电路的5V互补式SiGe BiCMOS技术
机译:利用高性能横向BJT在薄膜SOI上实现完全互补的BiCMOS。
机译:超低功率高温和辐射硬互补金属氧化物半导体(CMOS)绝缘体上硅(SOI)电压基准
机译:质子和X射线照射对厚膜SOI互补(NPN + PNP)SiGE HBT的DC和AC性能的影响
机译:辅助车身驱动 - 用于sOI的低压模拟电路技术
机译:超薄SOI / SGOI基板上的超高速SI / SIGE调制掺杂场效应晶体管
机译:超薄SOI / SGOI基板上的超高速SI / SIGE不规则掺杂场效应晶体管
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