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秦俊岭; 邵建达; 易葵; 范正修;
中国科学院上海光学精密机械研究所;
软X射线; 多层膜; 扩散屏障层; Mo/Si; 反射率; 模拟;
机译:使用软X射线反射率确定Mo / Si多层中的层结构
机译:不同层数的Mo / Si多层膜的界面粗糙度,表面粗糙度和X射线软反射率
机译:多层结构界面夹层的X射线反射率研究:在Mo / Si多层膜中的应用
机译:界面不对称影响对MO / Si多层软X射线反射率的仿真研究
机译:用于X射线显微镜的水窗软X射线多层膜的开发。
机译:TiO2(Ti)/ SiO2 / Si叠层内部结构的软X射线反射法硬X射线光电子能谱和透射电子显微镜研究
机译:用软X射线反射率测定mo / si多层膜的层结构
机译:提高mo / si多层膜的反射率和稳定性。
机译:多层反射器,其制造方法,多层反射器的反射率恢复方法,软X射线光学系统和软X射线曝光设备
机译:多层湍流介质扩散反射谱的快速蒙特卡洛模拟的标定方法,以及从测量的扩散反射率确定多层湍流介质光学特性的方法和系统
机译:使用软X射线多层膜反射镜的软X射线多层膜反射镜和具有投影光学系统的曝光设备
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