极低频电磁暴露对钙离子跨膜迁移的影响及机理分析

摘要

目的:研究极低频(ELF)电磁暴露对细胞钙离子跨膜迁移的影响.方法:以人体肝癌细胞为对象,激光扫描共聚焦显微镜为检测手段,研究细胞钙离子跨膜迁移对ELF电磁暴露的响应.结果:在磁场强度为1.78×10-7 T条件下,与对照组对比,各暴露组均对不同频率和电场强度组合的外加电磁暴露环境有响应,其中f=16 Hz且EP=53 V m、f=45 Hz且EP=53 V m以及f=16 Hz且EP=80 V m的电磁暴露可使钙离子跨膜迁移量显著上升,而f=32 Hz且EP=53 V m、f=60 Hz且EP=53 V m、f=16 Hz且EP=26 V m以及f=16 Hz且EP=87 V m的电磁暴露未使钙离子跨膜迁移量显著上升.结论:不同频率和电场强度组合的ELF电磁暴露均会引起钙离子跨膜迁移量产生变化且呈现出明显差异,这可为ELF电磁环境下生物学应用提供实验依据;注重细胞膜离子通道物理、生物特性基础上探讨ELF电磁暴露对钙离子跨膜迁移影响的机理.