一种并行测试的最优设计方法

摘要

本文采用整数线性规划，实现了并行测试的最优设计。该方法使得并行测试图（ＰＴＧ）的最大完全子图（ＭＣＳ）的顶点数最少，即ＰＴＧ的点着色数（ＶＣＮ）最少，因而使得总的测试时间最少。文中提出了一个Ｏ（ｎ＾２）的最优测试调度算法。实现证明该模型是有效的，正确的。