并行测试

摘要： 为提高作为自动驾驶系统安全性验证手段的场景测试的效率,本文中提出了一种自动驾驶系统并行加速测试方法。首先根据自动驾驶系统测试需求,构建了由顶层管理层、中层协调层和底层执行层构成的3层加速测试架构。然后确定不同层级的具体任务:顶层管理单元流动,中层协调参数计算,底层执行试验运行。最后以前车切入场景为例,对某黑盒自动驾驶算法分别使用并行加速、并行遍历、单线程加速和单线程遍历4种方式进行对比测试。结果表明,在测试具体场景总数为4590的情况下,4种方式均发现所有危险场景,但其耗时差别悬殊,分别为1.3、5.7、22.4和96.2 h。说明本文提出的并行加速测试方法可有效、快速地发现参数空间中的危险场景,提高自动驾驶系统测试效率。

摘要： 为解决当前双框架控制力矩陀螺(DGCMG)控制器的自动测试设备不能对多组被测产品并行测试的问题和在串行测试中出现冗余测试的问题,采用PCIE总线技术和多线程技术,研发了基于PCIE总线的DGCMG控制器串行/并行自动测试系统。该自动测试系统可同时对四台DGCMG控制器进行并行测试或可定义测试内容的串行测试。测试结果表明,该自动测试系统解决了传统自动测试方法效率低、灵活性差的问题,且具有精度高,稳定性好的特点。

摘要： 随着导弹总装工厂智能化、平台化和柔性化的发展,并行自动测试在导弹组部件生产中的应用越来越广泛,而缺乏整体性的安全防护策略的测试系统在出现负载时序错误、操作行为异常等因素综合作用时,可诱发系统控制环路崩溃,造成不可预期的损伤。提出一种基于控制环路模态分析的电源安全策略,按照数据和逻辑解耦合的思路重构测试流程。AC-DC转换网络对供电环路实时监控以维持电路运行参数可控,LLC谐振变换电路实现低损耗电压的输出,测试流程分支设置监视节点,增强系统控制环路的鲁棒性。该安全策略有效降低了由测试流程设计不当造成的产品供电故障发生几率,提升了测试的安全性。

摘要： 针对卫星的地面测试、系统演练及在轨运行等需求,提出了基于信息流的耦合数字卫星构建方法,通过低成本、低风险、高效率的模拟硬件行为,解决了硬件未全部就绪的情况下,开展软件全生命周期的并行开发及测试;通过提供动力学、能源、热模型等耦合数学模型库,解决仿真系统和真实卫星行为差异问题,提供了在轨卫星故障链预演和分析平台。基于信息流的耦合数字卫星以虚拟处理器仿真为核心,通过硬件行为模拟,结合多物理场数字模型,扩展了数字卫星仿真的覆盖面,加强了仿真的真实性,降低了成本与风险。

摘要： 为提升外场维护人员的工作效率,更准确、高效地开展维护工作,提升维护技术的网络化、通用化、智能化水平是机载维护系统(Onboard Maintenance System,OMS)急需满足的需求。提出一套符合国际先进机载维护标准和技术规范的机载设备外场网络化交互式维护技术解决方案。通过执行ARINC 624协议,与飞机成员系统建立交互式测试模型,获取机载成员系统设备的健康状态数据;采用XML-RPC(远程程序调用)与Flex数据通信技术,设计了一整套并行测试执行过程和标准化交互式测试页面,满足对不同机载设备同时进行交互式维护测试操作,进而实施外场综合诊断和故障隔离,为实现民用飞机智能维护的目标奠定基础。

摘要： 随着集成电路的使用环境变得更加严酷,为了保证芯片在较大的温度范围内有较高的稳定性,在芯片的可靠性评价考核过程中必须对芯片进行常温、低温和高温测试(称为"三温测试").与此同时,芯片的量产测试需要从大量的芯片中筛选出合格和不合格的芯片.为了提高测试效率和保障产品质量,提出了基于测试分选机的集成电路三温量产测试系统,并对该测试系统的构成及搭建进行了分析.针对三温量产测试给出了包括测试板设计、测试配套件开发、测试软件开发、温控时间设定和多芯片并行量产测试等关键步骤.项目研究可以为行业提供集成电路三温量产测试系统搭建及选型参考,并可以指导三温量产测试项目的实施.

摘要： 针对基于有限资源并行测试任务调度困难、资源配置不合理、测试效率低下问题,提出一种并行任务调度优化算法,以蚁群算法为基础,在求得必须进行串行测试任务测试时间前提下,将可并行测试任务根据测试任务间约束关系和测试资源约束关系,合理安排在串行测试区间里,从而获得完成所有测试任务最短测试时间的任务调度序列.仿真结果表明,与自适应混沌免疫算法相比,该算法能得到更优的任务调度序列,测试效率更高.

摘要： 本文针对现有换流阀均压测试方法存在的问题和面临的困难,研制了一种新的换流阀均压测试仪,该仪器实现了晶闸管均压并行测试,从而实现了对轻微故障的预判、评估,均压测试由被动式处置转为主动式预警,并通过人机交互、智能识别、数据分析记录,实现智能化晶闸管均压测试.

摘要： 针对基于有限资源并行测试任务调度困难、资源配置不合理、测试效率低下问题,提出一种并行任务调度优化算法,以蚁群算法为基础,在求得必须进行串行测试任务测试时间前提下,将可并行测试任务根据测试任务间约束关系和测试资源约束关系,合理安排在串行测试区间里,从而获得完成所有测试任务最短测试时间的任务调度序列。仿真结果表明,与自适应混沌免疫算法相比,该算法能得到更优的任务调度序列,测试效率更高。

摘要： 本文主要阐述了中电科思仪科技股份有限公司研制的多通道AXIe模拟信号并行测试模块的设计。该模块是一个多功能、32通道、单槽的AXIe模块,每个通道集成了6个独立的功能仪表,包括函数发生器、任意波形发生器、数字化仪、数字万用表、限值检测器以及定时器/计数器。与传统模拟信号测试仪表相比,该模块的突出优点在于它的高集成度、并行测试,单个AXIe模块就能提供192个通用模拟仪表的功能,可广泛应用于模拟电路板、数模混合电路板故障诊断自动测试系统的集成。

摘要： 针对目前弹药测试保障系统测试资源利用率低,测试保障效率无法满足现代化战争需求的的问题,提出一种基于LXI总线的弹药并行测试系统设计思路.该系统软件平台划分为测试程序集和测试执行平台两部分。应用LXI总线测试系统的分布式测试,集中调度管理的特点;将测试任务分散化,测试能力本地化处理实现了弹药并行测试,有效解决了测试资源闲置以及测试系统保障效率低下的问题.通过并行测试系统设计思路、方案以及关键技术分析为弹药并行测试系统设计提供一种参考思路.

摘要： 拟把NxTest IPT提出的并行测试技术引入到飞机电气专业的机载设备性能检测分析中,研究不同并行测试方法的特点与机载成品特性。本研究拟把NxTest IPT提出的并行测试技术引入到国产军用飞机机载成品性能检测分析中，通过对系统资源的优化利用，提高测试效率及测试质量，降低机载设备系统的维护和测试成本及测试时间。通过对资源的优化利用，大大提高了测试系统的测试效率和性价比。通过开展对并行测试技术在机载设备性能检测中的应用研究，了解并行测试技术的实现方式、并行测试的资源结构、并行测试的软件框架、测试资源配备问题。同时以项目研究为契机，与相关的科研院校联合，积极开展针对航空机载设备及系统的并行测试技术的研究和应用，提高测试技术的发展和提高飞机的快速维护保障能力。初步实现对多个被测对象的并行测试和对单个被测对象的并行测试方式实现。

摘要： 为了满足机载计算机小批生产的测试需要，必将对其自动测试设备的综合化、通用化程度及测试效率提高要求。针对两种机电类机载计算机产品提出一种自动测试设备，能够有效整合测试资源，合理复用，同时满足4台产品进行功能、性能并行测试，实际应用可靠性高，极大提高产品的测试效率和生产效率。

摘要： 针对飞机遥控电子组件(REU)的并行测试首要解决的是测试资源初始配置问题。测试资源的优化配置有助于并行测试任务调度顺利执行，进而提高测试效率。分析测试资源与测试任务的约束关系，借助遗传算法(GA)的全局启发式优化能力，可以计算出给定UUT所需的测试资源配置的总体效益最优解，进而得到测试资源集配置比例关系，为测试的高效完成创造前提。结合实际某型飞机REU自动测试给出了实验仿真，得到平稳的测试资源总体最优解，表明算法是有效可行的。

摘要： 基于我国自行研制的超大规模并行计算机神威蓝光平台，对海洋环流模式POP进行了移植和进一步优化，并进行了模式和机器的并行测试，测试结果表明： 0.1度分辨率在5000核以内达到了线性加速比，随着使用线程数目的增多，加速比依然增加，但是加速效率在降低，当线程数目达到24000的时候加速比出现降低，加速效率只有12.6%；0.05度分辨率可在12000核以内达到了线性加速比，同样随着线程数目的增多加速在增多但加速效率在降低，当线程数目达到32000的时候加速比出现降低，加速效率只有25.7%。经过优化后的海洋环流模式POP在神威蓝光并行计算机系统上具有良好的兼容性，并行效率较高，而且具有很强的可扩展性，可用来开展超大规模的并行计算。对测试结果的进一步分析发现，发展并行性良好的线性方程组求解方案、快速高效的计算网络协议等问题是未来发展高分辨率模式的中需解决的问题。

摘要： 传统的测试方法需要为每个卫星型号构建一套地面支持测试系统，测试系统的研制基本上是为单一卫星服务的，这种方式存在灵活性低、可扩展性差，资源利用率低、系统转场和搭建困难等缺点。构建适应多星并行测试的地面测试系统，通过软件的灵活配置适应不同卫星的测试差异性，通过良好的协议和接口定义管理不同设备之间的交互，能有效弥补以上不足.本文介绍多星测试系统，详细分析系统中的通信和数据管理方法，阐述系统相对于传统测试系统的优势所在。

摘要： 本文通过简单介绍RFID技术,并分析目前RFID测试技术的热点,结合实际工作经验提出对RFID直接耦合测试以及并行测试的一些理解.

摘要： 通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少测试时间,降低测试成本.

摘要： To lower cost of flash testing, fan-out mode, also called wired-OR mode is implemented to increase testing parallelism. During applying this mode, some issues must be solved and opens are one of them. This article discusses opens impact of different type of pins and gives a simple method to catch higher address pin opens which may be bypassed incautiously.

摘要： To lower cost of flash testing, fan-out mode, also called wired-OR mode is implemented to increase testing parallelism. During applying this mode, some issues must be solved and opens are one of them. This article discusses opens impact of different type of pins and gives a simple method to catch higher address pin opens which may be bypassed incautiously.

摘要： 一种包含在存储芯片中的并行位测试(PBT)装置，该存储芯片被堆叠在多芯片封装(MCP)中并共享一数据信号线集，该装置可以包括：比较单元用于输出数据信号，该数据信号分别是在提供给指定存储芯片的测试数据信号和从那里输出的相关数据信号之间比较的表征；以及编码单元用于使用共享数据信号线集的第一子集来输出表征数据信号，该第一子集分别与其他存储芯片相关的编码单元所使用的其他子集不重叠，根据第一测试模式寄存器组(MRS)信号，编码单元从包含在第一子集中的共享数据信号线中选择一个或多个数据信号线。

摘要： 本发明涉及用于并行测试器(1)的定位装置、并行测试器(1)、以及用于测试印刷电路板的方法。本发明的一方面涉及精细调节定位装置，其中测试适配器(14)可以固定到保持装置的内保持件(28)，并且内保持件(28)可以相对于其他定位装置移动。作为轴承，仅提供一个或多个枢转接合件和/或一个或多个空气轴承和/或一个或多个磁轴承。

摘要： 本发明涉及用于测试无零件印刷电路板的并行测试器的全网式卡匣、用于该全网式卡匣的弹簧接触销、以及用于测试无零件印刷电路板的并行测试器的适配器。根据本发明的第一方面，弹簧接触销由膜固定于全网式卡匣。根据本发明的另一方面，全网式卡匣包含两块板，其可沿着弹簧接触销的轴向相对移动且可垂直轴向运作。根据本发明的第三方面，弹簧接触销设有中心弹簧接触点。根据本发明的又一方面，适配器设有配置扫描头的接触销，其中接触销具有锁定凸出件，用以将接触销固定以避免其掉落至适配器的导板上。

摘要： 本申请公开了一种并行测试的方法及并行测试服务器，主要内容包括：通过文件配置方式来指定待执行的测试用例，并将待执行的测试用例进行划分，分别利用为划分得到的各组配置的系统资源，并行运行组内的多个测试用例，以达到多个测试用例并行运行的目的。相比于现有技术，不需要针对每次并行运行的不同测试用例分别编写相应的测试系统，且只需要创建一个配置文件被所有的测试用例使用，而不需要分别为每个测试用例编写测试脚本，能够有效地提高并行测试的工作效率。

摘要： 本发明涉及用于测试无零件印刷电路板的并行测试器的全网式卡匣、用于该全网式卡匣的弹簧接触销、以及用于测试无零件印刷电路板的并行测试器的适配器。根据本发明的第一方面，弹簧接触销由膜固定于全网式卡匣。根据本发明的另一方面，全网式卡匣包含两块板，其可沿着弹簧接触销的轴向相对移动且可垂直轴向运作。根据本发明的第三方面，弹簧接触销设有中心弹簧接触点。根据本发明的又一方面，适配器设有配置扫描头的接触销，其中接触销具有锁定凸出件，用以将接触销固定以避免其掉落至适配器的导板上。

摘要： 本发明公开了一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法，所述的测试系统包括自动测试机ATE和安装于测试载板上的多个被测MCU、控制处理MCU以及与被测MCU一一对应的ADC采样电路，每一个被测MCU中均有一个被测试DAC电路，所述自动测试机ATE与每一个被测MCU以及控制处理MCU连接，控制处理MCU与每一个被测MCU连接以及与每一个ADC采样电路连接。在原有的测试系统中增加高处理能力的控制处理MCU和高精度的ADC采样电路，能够实现对多个被测MCU中的被测试ADC电路同时并行测试，对自动测试机ATE的性能要求不会太高，提供了并行测试能力和测试效率，节约了测试时间。

摘要： 本申请公开了一种并行测试的方法及并行测试服务器，主要内容包括：通过文件配置方式来指定待执行的测试用例，并将待执行的测试用例进行划分，分别利用为划分得到的各组配置的系统资源，并行运行组内的多个测试用例，以达到多个测试用例并行运行的目的。相比于现有技术，不需要针对每次并行运行的不同测试用例分别编写相应的测试系统，且只需要创建一个配置文件被所有的测试用例使用，而不需要分别为每个测试用例编写测试脚本，能够有效地提高并行测试的工作效率。

摘要： 本发明公开了一种EMC自动测试系统多测试项并行测试的实现方法，属于电磁兼容测试领域，本发明通过对测试资源的需求分析，对测试项的合理规划与测试资源的合理分配，在不产生冲突的前提下，对硬件资源进行合理划分，提出敏感度测试与传导发射测试同时进行的硬件方案，最大程度上减少资源闲置，在不增加现有的硬件设备的基础上，通过软件系统实现测试资源的多线程调用并建立相应的测试通路，最终实现了电磁兼容测试系统测试项并行测试，调高了测试效率，缩短了测试时间，节约了测试成本。

摘要： 本发明提供了一种多套引信并行测试的全电子引信测试仪，该方案包括有单片机、AC‑DC模块、DC/DC模块、铁电存储器、复位电路、继电器、连接器、CPLD模块、AD模块、驱动电路和指示灯；单片机分别与DC/DC模块、铁电存储器、指示灯、复位电路、CPLD模块、继电器和AD模块电连接；AC‑DC模块与继电器和DC/DC模块电连接；连接器分别与继电器和AD模块电连接；CPLD模块分别与连接器、驱动电路和单片机电连接。该全电子引信测试仪在测试全电子引信时，对被测引信发出的供电信号为同时发出，检测完毕后被测引信依次快速放电，可以大大缩短检测时间。

摘要： 本发明提供一种基于Credence KalosI存储器测试平台的并行测试装置及测试方法，装置包括：384个芯片，平均分成64子组芯片，每一芯片具有电源接口、地接口、时钟接口和IO接口各一个；内置于每一芯片中的一内建自测试模块中均具有多种自测试图形，且每一芯片的各接口均与内置的内建自测试模块相连；一KalosI存储器测试平台具有16块测试主板，每一测试主板具有48个测试通道和4个电源通道；每一电源通道分别与一子组芯片中的每一电源接口相连，每一测试通道分别依次与一芯片的时钟接口或IO接口相连，每一芯片中的地接口均与地相连，以使KalosI存储器测试平台可以实现384个芯片的并行测试。