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不同发射极面积npn晶体管高低剂量率辐射损伤特性

         

摘要

影响npn晶体管辐射损伤的因素有很多,如晶体管工艺、剂量率以及辐照偏置等.主要研究了三种发射极面积的国产npn晶体管在高低剂量率下的辐射损伤特性,分析了发射极尺寸对辐射损伤的影响.研究结果表明,国产npn晶体管具有低剂量率损伤增强效应,且发现当小电流注入下晶体管的辐射损伤会表现得愈加显著.比较三种发射极尺寸的晶体管辐照响应发现,发射极周长面积比P/A越大时晶体管归一化过剩基极电流ΔIB/IB0也越大.详细阐述了npn晶体管辐射损伤机制,从发射极尺寸和晶体管工作电压角度对npn晶体管的加固保证方法进行了探索.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2009年第8期|5572-5577|共6页
  • 作者单位

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院研究生院,北京,100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院研究生院,北京,100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

    中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    发射极面积; 国产npn晶体管; 剂量率; 辐射损伤;

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