封面
声明
中文摘要
英文摘要
目录
第一章 绪 论
1.1 课题研究的背景与意义
1.2 国内外研究的现状
1.3 论文的研究内容
1.4 论文的结构安排
第二章 密码芯片与故障注入攻击基础
2.1 密码算法简介
2.2 故障注入攻击密码芯片基础
2.3 加密AES算法介绍与故障攻击
2.4 本章小结
第三章 可测性设计基础
3.1 可测性设计的背景
3.2 扫描设计(Scan Design)
3.3 部分扫描设计
3.4 本章小结
第四章 针对故障注入的部分扫描链安全测试方法
4.1 用于筛选敏感寄存器的软故障平台
4.2 基于部分扫描链的安全测试方法
4.3 本章小结
第五章 基于部分扫描设计的安全测试实验和分析
5.1 软故障仿真平台敏感寄存器筛选结果与分析
5.2 对AES算法故障注入攻击结果
5.3 部分扫描链综合与测试向量生成结果与分析
5.4 本章小结
第六章 总结和研究展望
6.1 本文小结
6.2 未来研究展望
致谢
参考文献
攻硕期间取得的研究成果