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基于扫描探针的散斑场测量和圆环调制的表面等离子体激元操纵

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第一章 绪论

§1.1引言

§1.2 随机表面的描述和表面参数的物理意义

§1.3散射与散斑场

§1.4表面等离子体激元的基本理论

§1.5金属的色散特性与表面等离子体激元的特征长度

§1.6 本文的主要内容

第二章 利用扫描光纤探针从菲涅耳深区散斑场中提取表面参数

§2.1 引言

§2.2 菲涅耳深区散斑强度自相关函数同表面高度的定量关系

§2.3 基于扫描光纤探针探测系统与菲涅耳深区散斑测量实验

§2.4 随机表面参数的提取与结果分析

§2.5 总结

第三章 逆问题算法设计半径调制的圆形狭缝操纵表面等离子体激元

§3.1 引言

§3.2 Gerchberg-Saxton算法

§3.3 设计半径调制的圆环形狭缝

§3.4圆环调制方法的讨论

§3.5总结

第四章 基于电动平移台的二维光学图像采集系统

§4.1 引言

§4.2系统的设计和硬件组成

§4.3 系统开发与控制程序的设计

§4.4系统的测试

§4.5结论

第五章 总结及展望

参考文献

攻读硕士学位期间发表的文章

致谢

附录

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