声明
摘要
1 绪论
1.1 GaN的基本性质
1.1.1 GaN的物理性质
1.1.2 GaN的化学性质
1.1.3 GaN的光学性质
1.1.4 GaN的电学性质
1.2 GaN薄膜衬底材料的选择
1.2.1 蓝宝石(α-Al2O3)衬底
1.2.2 碳化硅(SiC)衬底
1.2.3 硅(Si)衬底
1.2.4 金属衬底
1.3 GaN的应用领域
1.3.1 光电器件
1.3.2 高频高功率电子器件
1.4 本文研究的意义与研究内容
2 GaN的生长与表征方法
2.1 GaN薄膜制备技术
2.1.1 金属有机物化学气相沉积(MOCVD)
2.1.2 分子束外延(MBE)
2.1.3 脉冲激光沉积(PLD)
2.1.4 氢化物气相外延(HVPE)
2.2 实验设备
2.3 表征手段
2.3.1 薄膜的晶体结构分析
2.3.2 薄膜的表面形貌分析
2.3.3 薄膜的光学特性分析
2.3.4 薄膜的电学特性分析
3 沉积温度对GaN薄膜性能的影响
3.1 沉积温度对GaN/Ti薄膜的性能影晌研究
3.1.1 实验过程及参数
3.1.2 实验结果与分析
3.1.3 小结
3.2 沉积温度对GaN/Mo的性能影响研究
3.2.1 实验过程及参数
3.2.2 实验结果与分析
3.2.3 小结
4 TMGa流量对GaN薄膜性能的影响
4.1 TMGa流量对GaN/Ti薄膜的性能影响研究
4.1.1 实验过程及参数
4.1.2 实验结果与分析
4.2 TMGa流量对GaN/Mo薄膜的性能影响研究
4.2.1 实验过程及参数
4.2.2 实验结果与分析
4.3 本章小结
结论
参考文献
攻读硕士学位期间发表学术论文情况
致谢