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目录
1 绪论
1.1 封装技术发展研究
1.2 硅通孔互连技术的发展现状
1.3 国内外研究现状
1.4 本文研究内容
2 热结构耦合分析基础理论和研究方法
2.1 热分析理论基础
2.2 热传递类型
2.3 三类基本边界条件以及初始条件
2.4 热-结构耦合分析理论
2.5 本文研究方法
3 硅通孔技术的关键工艺研究
3.1 TSV技术研究
3.2 Cu-TSV制作过程
3.3 硅通孔电镀铜柱力学材料性能纳米压痕测试
4 硅通孔热机械可靠性分析
4.1 电镀铜不同材料属性对硅通孔热应力的影响
4.2 二维模型与三维模型下热应力的分析对比
4.3 硅通孔不同排列模式对热应力的影响
4.4 本章小结
5 硅通孔三维芯片堆叠封装热应力设计分析
5.1 探究二维模型热应力的可行性
5.2 硅通孔三维芯片堆叠封装热应力仿真分析
5.3 结构参数对三维芯片堆叠封装热机械可靠性的影响
5.4 本章小结
6 总结与展望
6.1 全文总结
6.2 研究展望
致谢
参考文献