TIMA Lab., Grenoble, France;
CMOS image sensors; built-in self test; integrated circuit testing; BIST technique; CMOS active pixel sensor; built-in-self-test; catastrophic parametric fault; electrical test measure; APS; BIST; density estimation; image sensors; photodiodes;
机译:1.0V V / sub DD / CMOS有源像素传感器,具有互补像素架构和脉宽调制,采用0.25- / spl mu / m CMOS工艺制造
机译:具有互补像素架构和采用0.25μmCMOS工艺制造的脉宽调制的1.0V VDD CMOS有源像素传感器
机译:具有有源像素传感器和用于视网膜下假体的氧化铱电极的CMOS 256像素光伏供电的可植入芯片
机译:CMOS活性像素传感器BIST技术的实验验证
机译:用于数码相机的CMOS有源像素传感器:最新技术。
机译:采用四阱技术的单片有源像素传感器(MAPS)可实现接近100%的填充因子和完整的CMOS像素
机译:具有自偏置像素的CMOS单片有源像素传感器的辐射容限