STMicroelectronics srl, Italy;
CMOS digital integrated circuits; VLSI; fault diagnosis; integrated circuit reliability; integrated circuit yield; system-on-chip; SoC reliability; SoC yield; VLSI CMOS technology; fault localization method; industrial methodology; Fault localization; diagnosis; yield and reliability;
机译:FFI4SOC:一种细粒度的故障注入框架,用于评估SOC中的软错误的可靠性
机译:基于学习的无时钟电路永久性故障可靠性评估方法
机译:组合方法评估容错片上系统的良率和操作可靠性
机译:利用高级故障定位方法,以便对SOC的产量和可靠性学习
机译:荧光光活化定位显微镜的扩展方法和估计光活化蛋白的活化产率
机译:粪便微生物组方法对婴幼儿DNA产量和测序的可靠性
机译:基于学习的可靠性评估方法,用于检测无机电路永久性故障