Robust delay-fault test generation and synthesis for testability under a standard scan design methodology

机译：在标准扫描设计方法下，强大的延迟故障测试生成和综合可测性

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来源
《Proceedings of the 28th conference on ACM/IEEE design automation》|1991年|P.80-86|共7页
会议地点 San Francisco CA(US)
作者
Kwang-Ting Cheng; Srinivas Devadas; Kurt Keutzer;
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作者单位

ATT Bell Laboratories, Murray Hill, NJ;

Department of EECS, MIT, Cambridge, MA;

Synopsys, Mountain View, CA;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类机械设计;
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