机译:具有延迟故障可测试性的高级测试综合和分层测试生成
Automatic test pattern generation (ATPG); delay test; design for testability (DFT); high-level test synthesis (HLTS);
机译:延迟故障测试生成和综合,以标准扫描设计方法进行可测性
机译:“健壮的延迟故障可测试电路的合成:理论”的附录
机译:通过逻辑综合可验证的非鲁棒延迟故障可测试电路
机译:在标准扫描设计方法下,强大的延迟故障测试生成和综合可测性
机译:基于透明度的分层可测试性分析和寄存器生成级别设计的测试生成。
机译:通过层次聚类对下一代测序数据进行稀有变异关联测试
机译:鲁棒延迟故障可测试电路的合成:理论