Inst. of Phys., Estonian Acad. of Sci., Tartu;
机译:导电薄膜ZnO的光谱学和近表面缺陷的控制
机译:用正电子形成光谱法观察近表面空位型缺陷的高温退火
机译:阴极发光光谱观察的裸露和金属覆盖的n-GaN膜的电子近表面缺陷状态
机译:绝缘子近表面缺陷的外电子能谱
机译:用深层瞬态光谱法(DLTS)表征4H-SiC的缺陷及其对器件性能的影响
机译:通过绝缘子的缺陷工程验证金属-绝缘体-氧化物半导体二极管中的电荷转移
机译:导电薄膜ZnO中近表面缺陷的光谱学和控制
机译:利用低能正电子束研究近表面区域和界面的缺陷