Einsatz eines iterativen Nahfeldscanverfahrens zur Ermittlung der Stromverteilung von Leiterplatten anhand eines Multi-Dipol-Modells

摘要

Die Untersuchung des magnetischen Nahfeldes stellt eine Moglichkeit dar, Aussagen uber das EMV-Verhalten zu treffen. So konnen im einfachsten Fall Bereiche mit hohen Feldstarken lokalisiert werden. Uber eine Nachbearbeitung der Messdaten konnen aber auch Aussagen uber die Abstrahlung getroffen werden. Weiterhin ist es moglich, die Stromverteilung auf einer Leiterplatte abzuschatzen. Damit konnen kritische Bereiche lokalisiert werden, die eine hohe Storaussendung hervorrufen konnen.