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【24h】

Device Architecture for Terahertz Characterization of Organic Electro-optic Ultra-thin Films using Time-Domain Attenuated Total Reflection Method

机译:用于使用时域衰减的总反射方法的Terahertz的设备架构有机电光超薄膜的表征

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摘要

We developed a new device architecture for characterizing the properties of electro-optic (EO) material from the thin-film device utilizing time-domain attenuated total reflection spectroscopy in the terahertz (THz) frequency region. The properties of the test material showed good agreement with the results from pellets measurements by conventional THz-TDS system.
机译:我们开发了一种新的器件架构,用于在利用太赫兹(THz)频率区域中的时域衰减的全反射光谱从薄膜装置中表征电光(EO)材料的特性。测试材料的性质与常规THZ-TDS系统的颗粒测量结果表现出良好的一致性。

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