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Advanced methods for accurate thickness measurement of ultra thin coatings on films - (PPT)

机译:用于薄膜上超薄涂层的精确厚度测量的先进方法 - (PPT)

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摘要

Off-line measurement range from 0.2 to 250 microns. On-line measurement range from 0.4 to 250 microns. Only wet measurement on Silicone was possible withbaseline ROI technology as dry thickness was lower than the low end of system range. Online wet measurement results are provided in the following slides.
机译:离线测量范围为0.2至250微米。在线测量范围为0.4至250微米。只有在硅氧烷上的湿法测量才能使用偏通ROI技术,因为干厚度低于系统范围的低端。在以下载玻片中提供了在线湿测量结果。

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