Measuring system; MOSFETs; Radiation effects; Test structures; SPICE models; Parameter extraction;
机译:基于瞬态电流测量的功率MOSFET自热模型参数提取与比较
机译:FDSOI MOSFET中基于分立C-V测量的新参数提取方法
机译:0.25μm技术处理的n沟道MOSFET中的1 / f噪声测量BSIM3v3噪声参数的提取
机译:用于MOSFET的硬件软件子系统,用于辐射效应的算帐特征测量和参数提取
机译:独立双栅极MOSFET的直流参数提取技术。
机译:使用MOSFET检测器的质子剂量分布测量以及用于LET效应的简单剂量加权校正方法
机译:通过EKV参数提取和RF测量,对具有新架构的CmOs兼容垂直mOsFET进行表征